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硅片厚度TTV測試儀

硅片厚度測試的方法主要包括非接觸式光學測量技術,如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??
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。其中,反射率法是通過測量不同角度下光線的反射率變化來計算硅片厚度,而干涉法則是利用光的干涉現象來測量厚度,這種方法可以測量到非常薄的硅片?

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-06-26
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硅片厚度測試的方法主要包括非接觸式光學測量技術,如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1。其中,反射率法是通過測量不同角度下光線的反射率變化來計算硅片厚度,而干涉法則是利用光的干涉現象來測量厚度,這種方法可以測量到非常薄的硅片?1。

測試原理

  1. ?反射率法?:通過測量不同角度下光線的反射率變化來計算硅片厚度。

  2. ?干涉法?:利用光的干涉現象來測量厚度,適用于非常薄的硅片。

  3. ?激光掃描共聚焦顯微鏡?:利用激光掃描和共聚焦技術進行高精度的三維成像和測量。

測試標準

硅片厚度的測量通常參考國際半導體產業協會(SEMI)頒布的相關標準,如SEMIM1、SEMIM59等?1。

測試設備

硅片厚度測量儀是一種用于測量硅片厚度的設備,操作步驟包括將待測硅片放置在測量儀上,開啟儀器并調整參數進行測量并記錄數據。維護注意事項包括定期清潔測量儀、避免碰撞或摔落,并按照說明書進行日常維護?



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